تحلیل و تعیین مشخصات متاسرفیس تطبیق امپدانس با زاویه وسیع برای آرایه‏ های فازی دوقطبی

 

چکیده ــ اثرات تزویج متقابل _با اسکن شدن off broadside پرتو_ روی عملکرد آرایه‏های فازی تاثیر می‏گذارد. تطبیق امپدانس زاویه-گسترده (WAIM) این مساله را از نظر تطبیق امپدانس خط ارسال، سبک تر می‏کند و رنج اسنکن قابل استفاده‏ی آرایه را افزایش می‏دهد. بطور سنتی، یک اسلب دی الکتریک در فاصله‏ای بالای آرایه قرار می‏گیرد، که منجر به تطبیق در برخی از زاویه‏های داده شده‏ی off broadside می‏گردد. ما با جایگزین کردن اسلب دی الکتریک با یک متاسرفیس فوق-نازک ساخته شده از یک ورقه از رزوناتورهای حلقه-شکسته برای بهبود مشخصه‏های اسکن یک آرایه‏ی فازی دوقطبی، راه حلی ساده تر و کارآمدتر پیشنهاد می‏کنیم. نشان داده شده است که حضور متاسرفیس منجر به بهبود چشمگیری در چندین صفحه اسکن می‏شود. یک مدل تعمیم یافته از خط ارسالی معادل، برای آرایش WAIM قدیمی معرفی شده و در متاسرفیس بکار رفته است. یک مدل شبه-تحلیلی مبتنی بر مدل خط ارسالی معادل و پارامترهای پراکنده‏ی استخراج شده‏ی متاسرفیس به خوبی رنج اسکن کل ساختار را پیش بینی کرده و امکان طراحی سریع‏تر را فراهم می‏کند.

اصطلاحات شاخص: تیوری آنتن، آرایه‏های فازی، آرایه ‏های دوقطبی، متاسرفیس، فرامواد، ساختار پریودیک، تطبیق امپدانس.

Analysis and Characterization of a Wide-Angle Impedance Matching Metasurface for Dipole Phased Arrays

120,000 ریال – خرید

پاسخ دهید